首页> 中国专利> 用于非对称GaN晶体管和增强模式操作的自对准结构和方法

用于非对称GaN晶体管和增强模式操作的自对准结构和方法

摘要

实施例包括高电子迁移率晶体管(HEMT)。在实施例中,栅极电极与源极和漏极半导体区间隔不同的距离,以提供高击穿电压和低导通状态电阻。在实施例中,自对准技术用于在沟槽中以及在中间芯体之上形成电介质衬垫,从而利用单掩模操作来独立地限定栅极长度、栅极‑源极长度以及栅极‑漏极长度。在实施例中,Ⅲ‑N HEMT包括用于阈值电压调谐和/或增强模式操作的氟掺杂的半导体势垒层。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-31

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/778 申请日:20130612

    实质审查的生效

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/778 申请日:20130612

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    公开

    公开

  • 2015-04-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号