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RRAM器件的顶电极阻挡层

摘要

一种集成电路器件包括:形成在衬底上方的电阻式随机存取存储器(RRAM)单元。RRAM单元包括具有上表面的顶电极。阻挡层覆盖上表面的一部分。通孔延伸在电介质的基质内的顶电极之上。顶电极的上表面包括与阻挡层交界的区域和与通孔交界的区域。与通孔交界的上表面的区域环绕与阻挡层交界的上表面的区域。当以这种方式构建时,在加工期间,阻挡层用以保护RRAM单元不受蚀刻破坏,从而不干扰上面的通孔和顶电极之间的接触。本发明包括RRAM器件的顶电极阻挡层。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-19

    授权

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  • 2015-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/24 申请日:20140714

    实质审查的生效

  • 2015-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/24 申请日:20140714

    实质审查的生效

  • 2015-05-27

    公开

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  • 2015-05-27

    公开

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