首页> 中国专利> 一种超快椭偏仪装置和测量方法

一种超快椭偏仪装置和测量方法

摘要

本发明公开了一种超快椭偏仪装置及测量方法,其包括用于产生皮秒量级啁啾脉冲的啁啾脉冲发生单元、泵浦光路单元、探测光路单元和反射光路单元,啁啾脉冲经非偏振分光镜后分为泵浦光和探测光,泵浦光经泵浦光路单元对样品进行泵浦冲击;探测光经探测光路单元斜入射至样品表面;探测光经样品表面反射后的反射光分为P光和S光,使P光和S光进行干涉,产生频域干涉图,根据频域干涉图计算获得包括幅值比和相位差的偏振光偏振状态的改变,然后通过偏振光幅值比和相位差的理论表达式与测量结果进行拟合,获取冲击动力学和光学参数。本发明通过单发脉冲同时测量材料的冲击动力学特性和光学特性,可准确描述冲击波作用下的材料响应特性。

著录项

  • 公开/公告号CN105158165B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201510361849.6

  • 申请日2015-06-26

  • 分类号

  • 代理机构武汉东喻专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李佑宏

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-18

    授权

    授权

  • 2016-01-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/21 申请日:20150626

    实质审查的生效

  • 2016-01-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/21 申请日:20150626

    实质审查的生效

  • 2015-12-16

    公开

    公开

  • 2015-12-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号