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一种基于CT数据的内照射HPGe探测器探测效率确定方法

摘要

本发明涉及一种基于CT数据的内照射HPGe探测器探测效率确定方法,针对一款HPGe探测器,基于不同能量伽马射线全能峰探测效率测量数据,采用蒙特卡罗粒子输运数值计算,调整探测器灵敏区的几何参数,获得探测器灵敏区的几何参数;采用蒙特卡罗粒子输运数值计算,求解探测器表面不同能量伽马射线在不同离散区域、不同离散角度相空间上对应的微分探测效率分布;基于待测人体的CT医学影像数据,建立人体解剖结构特征的体素模型和感兴趣器官或区域的体素模型,感兴趣器官或区域作为源区;由指数衰减公式,求解源区体素到探测器表面面积元的直穿伽马射线份额,利用建立的微分探测效率分布数据,通过多重积分获得针对源区的探测器全能峰探测效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104267425B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN201410549657.3

  • 申请日2014-10-16

  • 分类号G01T1/24(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人成金玉;孟卜娟

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-25

    授权

    授权

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/24 申请日:20141016

    实质审查的生效

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/24 申请日:20141016

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

    公开

  • 2015-01-07

    公开

    公开

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