几何因子加权刻度SGS技术中HPGe探测器的γ探测效率

摘要

分层γ扫描(Segmented Gamma Scanning,SGS)测量分析是一种无损检测技术,是桶装核废物定性、定量分析的重要手段.实际分析过程中,随着放射性核素所在的位置变化,对应每层不同的位置探测效率也随之变化,导致要对样品不同位置需分别进行效率刻度.本工作用均匀聚乙烯样品填充废物桶,采用SGS装置的测量方法和壳源模型估计放射核素活度.,将放射性点源至于桶内,按距桶中心距离由内至外依均匀分布规律选取7个点,分别对其进行效率刻度.通过Monte-Carlo方法建立SGS测量系统模型,通过两种方法将1-7号位置的几何因子对探测效率计算结果进行加权平均后给出每层的探测效率标准值,此标准值可充分估计每层不同位置对核素的探测效率.结果表明:在测量和计算误差存在的条件下,可以快速、准确估计出放射性废物桶内不同位置的核素放射性活度,提高检测精度.