公开/公告号CN1245606C
专利类型发明授权
公开/公告日2006-03-15
原文格式PDF
申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;
申请/专利号CN03150837.5
申请日2003-09-08
分类号G01B21/02(20060101);H01J37/26(20060101);H01J37/22(20060101);
代理机构31128 上海世贸专利代理有限责任公司;
代理人李浩东
地址 200233 上海市宜山路716号
入库时间 2022-08-23 08:58:27
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-11-23
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/02 授权公告日:20060315 终止日期:20100908 申请日:20030908
专利权的终止
2006-03-15
授权
授权
2004-10-27
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-08-25
公开
公开
机译: 用于校准用于测量至少一种物质的过程值的装置的方法,通过装置和系统测量至少一种物质的过程值的方法
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