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一种根据有证标准物质校准电子显微镜测量物质长度的方法

摘要

本发明涉及物质形态分析及计量测试技术领域,尤其是涉及一种具有溯源值、并带有不确定度评估的、根据有证标准物质校准电子显微镜测量物质长度的方法。它包括如下步骤:a.校准电子显微镜;b.用电子显微镜拍摄被测物质图像;c.测量被测物质图像;d.计算被测物质的长度值L。本发明实现了用电子显微镜测量物质长度、使用有证标准物质来校准与最终图像的放大倍率具有唯一关联的电子显微镜输出图像上的显微标尺对电子显微镜进行有溯源性校准、并使用校准过的电子显微镜来拍摄物质的图像、测量和计算被拍摄物质的长度并可给出物质长度的不确定度评估方法。该方法使得被测量物质的测量值具有溯源性和带有不确定度评估值,改变了目前电子显微镜的测量值没有溯源性和不确定度评估的状态。

著录项

  • 公开/公告号CN1245606C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;

    申请/专利号CN03150837.5

  • 发明设计人 盛克平;丁听生;张利明;

    申请日2003-09-08

  • 分类号G01B21/02(20060101);H01J37/26(20060101);H01J37/22(20060101);

  • 代理机构31128 上海世贸专利代理有限责任公司;

  • 代理人李浩东

  • 地址 200233 上海市宜山路716号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-11-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/02 授权公告日:20060315 终止日期:20100908 申请日:20030908

    专利权的终止

  • 2006-03-15

    授权

    授权

  • 2004-10-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-25

    公开

    公开

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