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一种提高金属凸块在真空回流工艺中的成球率的方法

摘要

本发明提供一种半导体封装领域中提高金属凸块在真空回流工艺中的成球率的方法。具体包括以下几个步骤:(1)在UBM(凸点下金属)上形成球形或方形的金属焊料凸块;(2)将步骤(1)所制备的金属焊料凸块经过毛刷进行清洗;(3)将经过步骤(2)处理过的金属焊料凸块置于真空回流炉中进行回流;(4)步骤(3)中回流后的金属凸块在真空的条件下冷却至40℃以下。采用本发明的技术方案,可以改善金属凸块在真空回流工艺中成球率低的问题,成球率从原来的99.5%提高到了99.98%,同时也有效改善了金属凸块成球后的表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号CN104485293B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通富微电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201410765890.5

  • 发明设计人 丁万春;

    申请日2014-12-12

  • 分类号

  • 代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人何青瓦

  • 地址 226004 江苏省南通市崇川路288号

  • 入库时间 2022-08-23 09:58:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-11

    授权

    授权

  • 2017-08-11

    授权

    授权

  • 2017-02-01

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L21/60 变更前: 变更后: 申请日:20141212

    著录事项变更

  • 2017-02-01

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 21/60 变更前: 变更后: 申请日:20141212

    著录事项变更

  • 2017-02-01

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 21/60 变更前: 变更后: 申请日:20141212

    著录事项变更

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20141212

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20141212

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20141212

    实质审查的生效

  • 2015-04-01

    公开

    公开

  • 2015-04-01

    公开

    公开

  • 2015-04-01

    公开

    公开

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