用于测定功率电子装置的半导体器件的温度标定特征曲线的方法和装置

摘要

本发明涉及一种用于测定功率电子装置的半导体器件(3)的温度标定特征曲线的装置和方法。所述装置和方法的特征尤其在于：能够简单地且经济上适宜地测定温度标定特征曲线。为此，将半导体器件(3)的功率端子‑与负载电流的第一电流源(1)、‑与测量电流的第二电流源(2)，和‑与用于测量在功率端子或与功率端子连接的辅助端子上下降的电压的电压表(V)互联。此外，与数据处理系统连接的半导体器件(3)‑间隔地在接通第一电流源(1)的情况下经由所述半导体器件的损失功率加热和‑在切断第一电流源(1)并接通第二电流源(2)时测量在作为代表温度的数值的通过半导体器件(3)的热学主时间常数测定的持续时间之后在间隔之间在功率或辅助端子上下降的电压，包括所属的温度。该数值在近似之后形成半导体器件(3)的标定特征曲线。