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基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法

摘要

本发明提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法,其中装置包括:全漫反射元件,用于按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中;遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射全漫反射元件的太阳光;光学辐射测量仪,用于测量全漫反射元件,获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据,和不含全漫反射太阳光的第二响应数据;计算单元,用于计算第一响应数据和第二响应数据的响应差,根据所述响应差和预先获知的全漫反射太阳光在大气层外的响应数据,得到当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。本发明的目的在于准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上,光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。

著录项

  • 公开/公告号CN104634765B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 姜志富;

    申请/专利号CN201510098070.X

  • 申请日2015-03-05

  • 分类号

  • 代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人潘俊林

  • 地址 732750 甘肃省酒泉市东风场区东风0948楼3单元321室

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/59 授权公告日:20170623 终止日期:20190305 申请日:20150305

    专利权的终止

  • 2017-06-23

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    授权

    授权

  • 2015-06-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/59 申请日:20150305

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/59 申请日:20150305

    实质审查的生效

  • 2015-05-20

    公开

    公开

  • 2015-05-20

    公开

    公开

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