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断层成像扫描条件确定方法、断层成像法及断层成像装置

摘要

为在通过包括多检测器的CT装置执行螺旋扫描的过程中确定相对于所允许的图像噪声值不会过大或不足的辐射剂量,提供了包括如下的步骤的方法:选择要通过包括多检测器的X-射线CT装置进行螺旋扫描产生的断层图像的图像厚度(步骤ST1);应用单片层CT辐射剂量确定算法临时地确定通过单片层CT获得具有该图像厚度的X-射线断层图像的X-射线剂量(步骤ST2);选择扫描协议(ST3);从与所选择的图像厚度相匹配的剂量校正系数表中读取剂量校正系数(步骤ST4);通过剂量校正系数校正X-射线剂量(步骤ST5);通过指定管电流和发射时间之中至少一个来确定断层成像扫描条件(步骤ST6);执行螺旋扫描并显示X-射线断层图像(步骤ST7)。因此,可以避免对象暴露在超过必需的辐射剂量之中的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN1263426C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GE医疗系统环球技术有限公司;

    申请/专利号CN00803740.X

  • 发明设计人 堀内哲也;乡野诚;

    申请日2000-12-13

  • 分类号A61B6/03(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人陈霁;张志醒

  • 地址 美国威斯康星州

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-07-12

    授权

    授权

  • 2002-12-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-11-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-07-24

    公开

    公开

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