逻辑集成电路中扫描链的故障定位方法

摘要

对于多个组态相同的逻辑集成电路中的每一相对应扫描链集合撷取多个关联于反向器的初始值向量。相互比较在同一个相对应扫描链集合中的初始值向量，以确认该初始值向量中具有固定值的元素。当该具有固定值的元素的数目达到一预定的百分比时，选定该具有固定值的元素作为该相对应扫描链集合的一标准图样。相互比较一欲进行故障定位的逻辑集成电路中的扫描链的初始值向量与关联于该扫描链的标准图样，借以确定该欲进行故障定位的逻辑集成电路中的该扫描链是否具有故障的反向器。