法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-05-03
授权
授权
2014-12-10
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/812 申请日:20140811
实质审查的生效
2014-11-05
公开
公开
机译: 一种具有漏区和源区的原位生产的晶体管器件的制备方法以及相应的晶体管器件,所述漏极区和源极区具有可变形的端基合金和逐渐变化的掺杂剂分布
机译: 场效应管N沟道MOSFET器件,曾经是电子设备的可编程存储单元,其源极的掺杂比漏极高,其中从沟道到漏极的掺杂杂质浓度梯度很高
机译: 一种CMOS器件,其包括具有后继漏极和源极区的NMOS晶体管以及在漏极和源极区中具有硅/锗材料的PMOS晶体管