一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法

摘要

一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法，本发明的扫描测试设计方法通过定制的扫描测试宏单元，并结合特殊的设计流程，能够利用普通针对D触发器的扫描测试设计方法产生针对锁存器单元的基于结构的ATPG测试向量，解决现有基于锁存器设计的数字专用集成电路不易进行可测性设计开发，测试向量故障覆盖率低，时序分析复杂的问题，大幅度提高了芯片测试的故障覆盖率，保证了芯片测试的有效性和完备性，主要应用于基于锁存器设计的数字专用集成电路的测试向量开发。