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半导体装置制造时的低热预算方案

摘要

本发明涉及半导体装置制造时的低热预算方案,在本发明的态样中,揭露的是形成半导体装置的方法,其中非晶区是形成于制造期间的早期阶段,并且非晶区是保存于后续处理过程顺序期间,以及具有非晶区的中间半导体装置结构是设于制造期间的早期阶段。本文中,栅极结构是设于半导体基底上方,并且非晶区是毗连栅极结构而成。源极/漏极扩展区或源极/漏极区是在非晶区中形成。在一些描述性具体实施例中,可将氟植入非晶区内。在形成源极/漏极扩展区及/或源极/漏极区后,进行快速热退火程序。

著录项

  • 公开/公告号CN104051237B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN201410098728.2

  • 申请日2014-03-17

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/02 授权公告日:20170412 终止日期:20190317 申请日:20140317

    专利权的终止

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20140317

    实质审查的生效

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20140317

    实质审查的生效

  • 2014-09-17

    公开

    公开

  • 2014-09-17

    公开

    公开

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