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Y波导调制器半波电压测试方法

摘要

本发明设及一种Y波导调制器半波电压测试方法。本发明将待测Y波导接入萨格纳克(Sagnac)干涉仪光路,形成完整的萨格纳克(Sagnac)干涉仪;将周期为4τ、阶梯高度相等,每个阶梯宽度为τ的数字阶梯波加在Y波导的调制电极上,用A/D技术将探测器输出波形上0~τ区间的电平V1和τ~4τ区间的电平V2的差作为判据;由低到高改变阶梯高度,用计算机计算V1和V2的差,当这个差为0时,记下阶梯高度值,根据阶梯高度值和半波电压的关系可准确得到Y波导的半波电压值。这种方法容易实现,精度高。光功率的变化、光路损耗和光路中存在的各种位相误差对测量的准确性都没有影响。可实现Y波导半波电压的高精度全自动测量。

著录项

  • 公开/公告号CN1236280C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN03105246.0

  • 发明设计人 杨远洪;张惟叙;马静;

    申请日2003-02-26

  • 分类号G01C19/58(20060101);

  • 代理机构11008 中国航空专利中心;

  • 代理人李建英

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-05-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C 19/58 授权公告日:20060111 终止日期:20100226 申请日:20030226

    专利权的终止

  • 2006-01-11

    授权

    授权

  • 2003-10-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-07-30

    公开

    公开

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