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具有复合沟道层的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管

摘要

本发明涉及半导体技术。本发明解决了现有氮化镓基异质结场效应晶体管为耗尽型器件,而没有一种相对可靠的增强型器件的问题,提供了一种具有复合沟道层的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其技术方案可概括为:与现有的GaN MIS‑HFET器件相比,本发明的具有复合沟道层的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管在其铝铟镓氮缓冲层及沟道层之间具有氮化铝背势垒层,且沟道层为复合沟道层。本发明的有益效果是,提高了可靠性,且可重复性高,适用于氮化镓基异质结场效应晶体管。

著录项

  • 公开/公告号CN104269433B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201410454173.0

  • 申请日2014-09-05

  • 分类号

  • 代理机构成都虹桥专利事务所(普通合伙);

  • 代理人李凌峰

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 09:53:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    授权

    授权

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/778 申请日:20140905

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

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