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一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法

摘要

本发明公开了一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法,包括:采用线阵相机沿着指定路径扫描光学元件表面;对左右相邻的显微散射暗场图像的感兴趣区域提取SIFT特征匹配点对;采用并行聚类算法对所述SIFT特征匹配点对进行筛选,得到最佳特征匹配点对集合;利用最佳特征匹配点对集合计算两图像重叠部分的变换矩阵,并运用变换矩阵实现图像的拼接。本发明的方法能够稳定快速地完成光学元件表面显微散射暗场图像拼接,耗时短,鲁棒性高,拼接误差小。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06T5/50 授权公告日:20170301 终止日期:20190819 申请日:20140819

    专利权的终止

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2014-12-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/50 申请日:20140819

    实质审查的生效

  • 2014-12-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 5/50 申请日:20140819

    实质审查的生效

  • 2014-10-29

    公开

    公开

  • 2014-10-29

    公开

    公开

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