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大口径光学元件表面划痕暗场图像的二值化方法和系统

摘要

本发明涉及一种大口径光学元件表面划痕暗场图像的二值化方法和系统。其中,该方法可以包括:基于暗场图像,利用Gabor滤波器,构建线段探测单元;其中,线段探测单元包括Lc、L

著录项

  • 公开/公告号CN106501265B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201610894348.9

  • 发明设计人 陶显;张正涛;徐德;刘希龙;

    申请日2016-10-13

  • 分类号

  • 代理机构北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋宝库

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 10:28:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-15

    授权

    授权

  • 2017-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/88 申请日:20161013

    实质审查的生效

  • 2017-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20161013

    实质审查的生效

  • 2017-03-15

    公开

    公开

  • 2017-03-15

    公开

    公开

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