首页> 中国专利> 用于光谱分析的光谱仪器和方法以及用于光学相干层析成像的系统

用于光谱分析的光谱仪器和方法以及用于光学相干层析成像的系统

摘要

一种光谱仪器(38)包括:第一光学部件(48),所述第一光学部件(48)用于对入射到所述第一光学部件(48)上的多色光束(46)进行空间光谱分离;物镜(50),所述物镜(50)将多种不同光谱区(B1,B2,B3)的分离光束(46a,46b,46c)发送到不同的空间区域(52a,52b,52c)上;以及传感器(54),所述传感器(54)在所述分离光束(46a,46b,46c)的光路中位于所述物镜(50)的下游,所述传感器(54)具有多个光敏传感器元件(54a,54b,54c)。所述传感器元件(54a,54b,54c)以下述的方式被布置在所述分离光束46a、46b、46c的光路中,即,使得每个所述传感器元件(54a,54b,54c)记录所述光束(46)的光谱扇区(A1,A2,A3)的强度,并且所述光谱扇区(A1,A2,A3)的中值(Mk1,Mk2,Mk3)彼此等距地位于k空间中,其中(k)表示波数。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-15

    授权

    授权

  • 2015-02-11

    著录事项变更 IPC(主分类):G01J 3/28 变更前: 变更后: 申请日:20111228

    著录事项变更

  • 2014-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20111228

    实质审查的生效

  • 2014-09-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号