用于成分检测的光谱分析系统及光谱分析方法

摘要

本发明涉及一种用于成分检测的光谱分析系统及光谱分析方法，其中光谱分析系统应用于金属成分分析装置中，光谱分析设备包括：降噪处理模块，用于对校正金属样本的光谱数据进行降噪处理，以及对检测金属样本的光谱数据进行降噪处理；校正建模模块，用于基于校正金属样本的光谱数据用化学计量学软件进行建模，得到金属成分测定模型；检测分析模块，用于采用金属成分测定模型和检测金属样本的光谱数据进行分析；以及通信模块。采用该种技术，结合化学计量学和建模建立金属成分分析的校正模型，有选择性地提取与分类目标有关的信息并抑制非相关特征和噪声的影响，可以有效消除各种非目标因素对光谱造成的影响，实现光谱分析更好的技术效果。