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漏检情况下的产品测试性指标获取方法

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本发明公开了一种漏检情况下的产品测试性指标获取方法，目的是提高测试性指标的准确性。技术方案是先收集产品相关的测试性设计资料，获得产品故障-测试相关性矩阵FT，然后计算漏检情况下的不确定参数，得到集合PDS和PFS，然后计算漏检情况下的故障-测试相关性矩阵FTP，在FTP的基础上计算故障检测率γ

著录项

公开/公告号CN106342306B

专利类型发明专利
公开/公告日2013-01-16

原文格式PDF
申请/专利权人中国人民解放军国防科学技术大学;
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申请/专利号CN201110011631.X
发明设计人刘冠军;邱静;陈希祥;杨鹏;吕克洪;苏永定;李天梅;徐玉国;张勇;杨述明;谭晓栋;邓冠前;王超;王刚;赵晨旭;
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申请日2011-06-24
分类号
代理机构国防科技大学专利服务中心;
代理人郭敏
地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号
入库时间 2022-08-23 09:50:52

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-01-18

保密专利的解密 IPC(主分类):G06F 17/00 申请日:20110624

保密专利的解密
2013-01-16

保密专利专利权授予

保密专利专利权授予

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