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半导体制造装置用温度调整装置、半导体制造中的PID常数运算方法、以及半导体制造装置用温度调整装置的运转方法

摘要

一种半导体制造装置用温度调整装置(3),为了调整在半导体制造装置中使用的流体的温度而具备热交换部(7),所述热交换部(7)在内部具有对流体进行加热冷却的温度调整部件(72),所述热交换部(7)在所流入的流体以及温度调整部件(72)之间进行热交换,所述半导体制造装置用温度调整装置(3)具备:PID常数运算部件(85),基于流体的物理特性值、以及用于测定流体的温度的温度传感器(6)的时间常数,运算PID控制用的PID常数;以及PID控制运算部件(86),基于由PID常数运算部件(85)运算出的PID常数,进行所述温度调整部件的PID控制。

著录项

  • 公开/公告号CN104508575B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科理克株式会社;

    申请/专利号CN201380039566.9

  • 发明设计人 三村和弘;

    申请日2013-07-18

  • 分类号G05B11/36(20060101);G05B13/02(20060101);G05D23/19(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人胡金珑

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:50:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-28

    授权

    授权

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B 11/36 申请日:20130718

    实质审查的生效

  • 2015-04-08

    公开

    公开

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