一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法

摘要

一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法，首先输入边界扫描测试信号，检测输出信号，检测到的输出信号与理想输出信号比较，如果二者近似程度满足要求，则停止测试，如果二者相差较大，通过内建自优化器改变芯片内各个块的背栅偏置，调节各个块内晶体管的阈值电压，通过调解后再检测输出信号，这样一直重复，直至测试输出信号与理想输出信号最大程度接近。通过边界扫描测试检测，内建自优化器调节背栅偏置可有效抑制晶体管的阈值电压偏移，从而改善晶体管的性能,达到抗辐照的功能，且本发明的抗辐照技术具有集成度高，速度快，抗辐照能力强等特点，并且成本低，工艺简单，易于实现。