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一种对互连结构进行电容提取的方法

摘要

本发明提供一种对互连结构进行电容提取的方法,应用于一导体,导体表面包括多个三角形边界元;每一个三角形边界元中设置至少一个变动点,包括:获取各个三角形边界元的变动点坐标;在每个变动点上设置一个独立随机变量和一个非独立随机变量,独立随机变量表示垂直于变动点所在表面的第一方向的变动,非独立随机变量表示第二方向的变动传递到变动点的力;将各个独立随机变量和非独立随机变量加入对应的变动点坐标中,形成一等效导体表面;计算等效导体表面的等效电容。对导体表面使用三角形边界元进行离散,基本上不增加随机变量的数目;能够及时的反应导体表面的变动,电容提取也能够准确反映变动电容的真实特征。

著录项

  • 公开/公告号CN103020379B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201210576410.1

  • 发明设计人 陈岚;马天宇;叶甜春;

    申请日2012-12-26

  • 分类号

  • 代理机构北京华沛德权律师事务所;

  • 代理人刘丽君

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所

  • 入库时间 2022-08-23 09:49:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-28

    授权

    授权

  • 2013-05-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20121226

    实质审查的生效

  • 2013-04-03

    公开

    公开

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