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可靠性测试板及PCB板孔间CAF失效分析方法

摘要

本发明公开了一种可靠性测试板及基于该可靠性测试板进行的PCB板孔间CAF失效分析方法,所述方法包括以下步骤:提供一种可靠性测试板,并通过分半测试法在可靠性测试板上确定发生CAF的两个相邻的失效孔的位置;对可靠性测试板上发生CAF的两个失效孔及其邻近区域进行水平研磨,直至导电阳极丝出现在研磨剖面上;垂直于所述可靠性测试板所在平面,并沿所述导电阳极丝对两个失效孔及其邻近区域进行切片,观察孔壁的质量及表观,依此分析CAF形成的原因。通过所述方法,可给CAF的改善措施的制定提供有力的依据,从而有利于CAF的改善。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-30

    授权

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  • 2014-05-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20131226

    实质审查的生效

  • 2014-04-16

    公开

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