首页> 中国专利> 一种具有多孔绝缘层和空气隙的半导体设备的制造方法

一种具有多孔绝缘层和空气隙的半导体设备的制造方法

摘要

本发明涉及一种半导体设备的制造方法,该方法包括一个双重镶嵌结构(20)。此双重镶嵌结构(20)包括一个金属层(1)及位于金属层(1)之上的带有通路(3)的第一绝缘层(2)。在第一绝缘层(2)之上是一个带有互连槽(6)的第二绝缘层(5)。在通路(3)和互连槽(6)内填充金属,构成一个带顶面(10)的金属芯(9)。该方法还包括以下步骤:去掉第二绝缘层(5),在第一绝缘层(2)和金属芯(9)上覆盖一层可移除层(12),将可移除层(12)与金属芯(9)的顶面(10)对齐,在可移除层(12)上覆盖一个多孔绝缘层(13),通过多孔绝缘层(13)去除可移除层(12)形成空气隙(14)。根据本发明,第二金属层(5)用做生成金属芯(9)的牺牲层。在金属芯(9)生成以后,通过去掉第二绝缘层(5),可使金属芯(9)突出于第一绝缘层(2)的表面之上。这样,就可在金属芯(9)周围形成空气隙(14)。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/768 授权公告日:20051207 终止日期:20120823 申请日:20010823

    专利权的终止

  • 2013-10-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/768 授权公告日:20051207 终止日期:20120823 申请日:20010823

    专利权的终止

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070831 申请日:20010823

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 登记生效日:20070831 变更前: 变更后: 申请日:20010823

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070831 申请日:20010823

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2005-12-07

    授权

    授权

  • 2005-12-07

    授权

    授权

  • 2003-11-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-11-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-01-01

    公开

    公开

  • 2003-01-01

    公开

    公开

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