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用于计算正电子发射断层造影的吸收参数的值的方法

摘要

本发明涉及一种用于借助磁共振断层造影(MRT)计算用于检查对象(U)的正电子发射断层造影(PET)的吸收参数的位置分辨的值的方法。该方法包括:采集第一区域(M)内部的第一磁共振数据和第二区域(51)内部的第二MR数据,其中所述第一区域(M)位于磁共振设备(5)的视野内部,并且所述第二区域(51)与所述第一区域(M)紧邻并且位于视野的边缘处。本发明还涉及从第一区域(M)内部的第一MR数据中位置分辨地计算吸收参数的第一值,和根据第二区域(51)内部的第二MR数据位置分辨地计算吸收参数的第二值。从第一值获得三维参数图。用第二值扩展了该参数图,使得该参数图在第一区域和第二区域内部位置分辨地具有吸收参数的值。

著录项

  • 公开/公告号CN103239251B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201310041350.8

  • 申请日2013-02-01

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 09:46:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-21

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20130201

    实质审查的生效

  • 2013-08-14

    公开

    公开

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