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基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置

摘要

本实用新型公开了一种基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置,包括激光束调制系统,测量系统和分光镜,激光束调制系统与测量系统构成4f相位相干成像系统,测量装置还包括显微成像系统。激光束经所述分光镜后分别进入测量系统和显微成像系统,所述分光镜为透射‑反射镜。通过设置显微成像系统观察待测样品,扩展了待测样品的尺寸范围。

著录项

  • 公开/公告号CN216013144U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州微纳激光光子技术有限公司;

    申请/专利号CN202121691126.X

  • 发明设计人 储祥勇;宋瑛林;杨勇;

    申请日2021-07-23

  • 分类号G01N21/41(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构32573 苏州满天星知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人牛保和

  • 地址 215500 江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区湖山路99号求真楼T2

  • 入库时间 2022-08-23 05:20:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    授权

    实用新型专利权授予

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