4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置和测量方法

摘要

本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置和测量方法，所述测量装置包括激光束调制系统，相位光阑4f成像系统，4f成像测量系统和显微成像系统，其特征在于，4f测量装置与显微成像系统共用一个透镜，透镜为显微物镜。通过设置显微成像系统观察待测样品，扩展了待测样品的尺寸范围。