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一种集成电路高温动态老化装置

摘要

本实用新型涉及集成电路老化测试技术领域,且公开了一种集成电路高温动态老化装置,包括箱体,所述箱体的内部下侧固定设置有隔板,所述隔板的上表面对称设置有两个丝杆,每个所述丝杆的两端杆壁分别通过第一轴承与隔板的上表面以及箱体的内部上表面转动连接,每个所述丝杆的杆壁均螺纹连接有三个第一滑块,位于同一水平线上的两个第一滑块之间共同固定设置有环形电加热管,所述箱体的上表面右侧固定设置有电机,右侧所述丝杆的上端贯穿箱体并向外延伸,且与电机的输出端固定连接,两个所述丝杆之间通过传动机构传动连接。本实用新型实现了对电加热管的位置调节,便于将测试板取出对集成电路板进行拆卸。

著录项

  • 公开/公告号CN215641642U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 陕西沅安科技发展有限公司;

    申请/专利号CN202023087075.8

  • 发明设计人 王世中;

    申请日2020-12-21

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构61108 西安吉盛专利代理有限责任公司;

  • 代理人赵娇

  • 地址 710077 陕西省西安市高新区锦业路69号创业研发园C区18号

  • 入库时间 2022-08-23 04:12:08

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