集成电路高温动态老化系统硬件研制

摘要

为了确保电子元器件产品满足用户对可靠性的要求，在出厂前都对目标器件进行老化测试，从而在短时间内剔除不合格器件。本文主要介绍了新一代集成电路高温动态老化系统的研制方案，系统构成以及各个模块的实现。