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一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的装置

摘要

本实用新型公开了一种适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的装置,包括连接外壳,所述连接外壳的顶端前端面固定连接有信号显示器,所述连接外壳的前端面中段固定连接有信号放大器,所述连接外壳的左右两侧内部开设有预留槽,所述预留槽的内部活动连接有伸缩杆,所述伸缩杆的前端面固定连接有底部支架。该适用于集成电路电磁场辐射抗扰试验的装置,连接外壳这种真空的设计能够在其内部产生电磁场,达到抗干扰的效果,同时信号显示器能够对干扰信号的结果实时显示,增加了装置的显示效果,伸缩杆表面设置的有刻度线,能够根据距离来检测装置抗干扰的效果,进一步增加了其实用效果,信号发生器能够卡合连接,帮助增加其拆装便捷性。

著录项

  • 公开/公告号CN215525959U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江诺益科技有限公司;

    申请/专利号CN202121805048.1

  • 申请日2021-08-04

  • 分类号G01R29/08(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310000 浙江省杭州市滨江区长河街道滨安路650号1幢十四层1409室

  • 入库时间 2022-08-23 03:54:09

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