一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台

摘要

本实用新型公开了一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片和台边缠绕架，所述基片的底端壁固定有片活条，且片活条的外侧端安置有外片，所述基片的顶端安装有片上轴，且片上轴的上端安置有轴顶台，所述台边缠绕架安装于轴顶台的内侧中部，且轴顶台的内侧左右两端均安置有内置机构。本实用新型通过片滑柱的五棱柱状设计，方便将片滑柱与滑柱腔稳定的进行活动，当滑柱腔内侧片滑柱上移后，片滑柱顶端的支片随之移动，调节至一个合适的位置后，支片端部的螺丝旋紧进行定位，此时可将芯片检测电器如万用表等结构安置在调节至合适位置的支片上，方便搭载检测使用，同时台边缠绕架端部可缠绕收卷线缆线束，方便其收整使用。