公开/公告号CN214309128U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-09-28
原文格式PDF
申请/专利权人 淄博亿力电子有限公司;
申请/专利号CN202120447978.8
发明设计人 马帅;
申请日2021-03-02
分类号G01J1/16(20060101);G01J3/50(20060101);
代理机构37223 淄博佳和专利代理事务所(普通合伙);
代理人孙爱华
地址 255000 山东省淄博市张店区昌国西路111号鲁中五金机电城西G14
入库时间 2022-08-23 00:42:16
机译: 用于测量反射光强度的层状结构,用于测量反射光强度的层状结构的设备以及用于测量薄膜的厚度和/或质量和/或粘度的方法
机译: 该装置包括用于层压结构的反射光强度测量,用于层压结构的反射光测量,以及粘度测量方法和/或薄膜的质量和/或厚度
机译: 用于测量反射光强度的层状结构,装有用于反射光的层状结构的设备以及确定薄膜的厚度和/或质量和/或粘度的方法