一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路

摘要

本实用新型提出一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路，包括：FPGA芯片、高速低精度采样回路、低速高精度采样回路及触发控制模块；其中，FPGA芯片根据上位机指令启动高速低精度采样回路或低速高精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样；触发控制模块检测采样点输出的电压信号，当检测到采样点的输出信号发生反转时，触发FPGA芯片选通高速低精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样。本实用新型能够基于不同采样需求切换具有不同采样速率的采样回路对采样点进行采样，同时设置触发控制模块对采样点进行电压翻转实时检测，当检测到电压翻转时，快速触发FPGA切换至高速低精度采样回路，从而保证能快速响应翻转点的测试。