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上睑下垂测量器

摘要

本实用新型公开了一种上睑下垂测量器,其包括能够覆盖在眼球上的半球壳状的角膜保护罩,所述角膜保护罩由透明材料制成,在所述角膜保护罩上设有多个同心圆形式的刻度圈。本实用新型通过将角膜保护罩改进为透明材料,以及角膜保护罩上设有的多个同心圆形式的刻度圈的设计,有利于准确测量角膜的大小,也可精确地测量上睑缘对角膜的遮盖程度,术中可睁眼观察角膜的暴露程度,保护角膜不受损伤,提高了上睑下垂矫正手术的精度,并且手术的意外风险大幅度降低。

著录项

  • 公开/公告号CN213758185U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 齐心竹;

    申请/专利号CN202022057876.3

  • 发明设计人 齐心竹;

    申请日2020-09-18

  • 分类号A61B3/107(20060101);A61B3/10(20060101);A61F9/007(20060101);

  • 代理机构11017 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人韩登营

  • 地址 200002 上海市杨浦区宁波路1号申华金融大厦

  • 入库时间 2022-08-22 23:12:21

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