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一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法

摘要

本发明涉及一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法,利用自回归模型计算生成ADC磁共振图像。利用多个且等间隔b值DWI序列可采集得到多幅不同b值的磁共振图像,对采集得到的所有像素的磁共振信号进行线性积分,即:利用Simpson数值积分法则对信号点做关于b值的多段等间隔积分,再建立自回归模型,最后对自回归模型参数进行最大似然估计得到ADC。是一种更加精确快速的计算E指数衰减系数的算法,该算法可以用于磁共振成像技术中快速精确计算ADC图像。本发明能够显著ADC磁共振图像计算效率和精确性,适用于放射科临床上各种相关疾病的诊断和研究。

著录项

  • 公开/公告号CN104095635B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201410361347.9

  • 申请日2014-07-28

  • 分类号A61B5/055(20060101);G06T11/00(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:43:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B5/055 授权公告日:20160720 终止日期:20190728 申请日:20140728

    专利权的终止

  • 2016-07-20

    授权

    授权

  • 2016-07-20

    授权

    授权

  • 2014-11-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/055 申请日:20140728

    实质审查的生效

  • 2014-11-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/055 申请日:20140728

    实质审查的生效

  • 2014-10-15

    公开

    公开

  • 2014-10-15

    公开

    公开

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