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一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置

摘要

本实用新型公开了一种触摸屏ITO膜不平度缺陷检测装置,涉及检测装置技术领域。本实用新型的结构包括箱体、支架、条板、暗箱、发射模块、接收模块,所述箱体顶侧壁凹槽内设置有一号传送装置和二号传送装置,所述支架和暗箱的底端固定在箱体顶侧壁上,所述支架后侧壁上固定右一号电机,所述一号电机前端固定有二号丝杆,所述一号丝杆上两个移动块下各固定一个条板,所述暗箱间隙空间内各设置有两个隔光门,两个隔光门顶端通过连接杆固定,所述暗箱顶壁内的二号电动推杆底端与连接杆固定,所述发射模块固定在暗箱间隙后侧壁凹槽内,所述接收模块设置在暗箱间隙空间前侧壁凹槽内。本实用新型可将ITO膜准确送入检测位置上,且避免外部光源干扰。

著录项

  • 公开/公告号CN213456710U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赫得纳米科技(昆山)有限公司;

    申请/专利号CN202022261219.0

  • 发明设计人 姜建峰;

    申请日2020-10-12

  • 分类号G01N21/89(20060101);G01B11/30(20060101);

  • 代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人汤东凤

  • 地址 215000 江苏省苏州市昆山市昆山开发区高科技工业园都市路21号

  • 入库时间 2022-08-22 22:12:40

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