公开/公告号CN213456710U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-06-15
原文格式PDF
申请/专利权人 赫得纳米科技(昆山)有限公司;
申请/专利号CN202022261219.0
发明设计人 姜建峰;
申请日2020-10-12
分类号G01N21/89(20060101);G01B11/30(20060101);
代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人汤东凤
地址 215000 江苏省苏州市昆山市昆山开发区高科技工业园都市路21号
入库时间 2022-08-22 22:12:40
机译: 一种使用塑料光纤芯直径的测量方法和一种塑料光纤芯直径的测量装置,以及一种使用该方法的塑料光纤缺陷检测方法和塑料光纤的缺陷检测装置
机译: 图像缺陷检测方法和图像缺陷恢复方式,是一种检测图像缺陷检测装置和图像缺陷的方法
机译: 触摸屏式缺陷检测装置