公开/公告号CN212340165U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-01-12
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉工程大学;
申请/专利号CN202021001691.4
申请日2020-06-04
分类号G01B9/02(20060101);G01B9/04(20060101);G02B21/36(20060101);G01B11/06(20060101);G01B11/24(20060101);G01N21/84(20060101);
代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;
代理人张力波
地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
入库时间 2022-08-22 19:07:30
机译: 扫描白光干涉仪和用于物体表面几何形状的空间分辨光学测量的方法
机译: 用于物体深度扫描的白光干涉仪在参考光路和/或测量光路中具有有源光学元件,从而能够相对于彼此改变光路长度
机译: 用于测量运动物体的干涉仪和用于测量运动物体的光学干涉仪的方法