一种带有F-P标准具测量量块的白光干涉仪信号仿真

摘要

目的:介绍了一种带有标准具测量量块的白光干涉仪。它可以将量块长度通过标准具间隔长度直接溯源至波长基准,能够利用一个标准具的光学倍乘特性实现多种尺寸量块的直接测量。方法:利用matlab平台模拟仿真研究了这种干涉仪的干涉信号,利用万工显对干涉信号进行了测量。结果:测量表明此新型量块测量的干涉仪中两条零级黑条纹之间的错位精度可以达到小于百分之一个干涉条纹,即小于3 nm以内。结论:本文的研究为量块的精确测量提供了崭新的技术手段。