退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN103471724B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-07-06
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN201310419736.8
发明设计人 周健;鲁伟;马小平;孙建锋;孙志伟;刘立人;
申请日2013-09-16
分类号G01J9/02(20060101);G01B11/24(20060101);
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人张泽纯
地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-23 09:43:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-07-06
授权
2014-01-22
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 9/02 申请日:20130916
实质审查的生效
2013-12-25
公开
机译: 横向剪切干涉仪相位差测量两波面恒定相位
机译: 波前测量装置横向剪切干涉仪的校准方法,涉及通过测量装置以相对于试样的测量装置的光学部件的不同倾斜角进行测量
机译: 3使用双折射材料的横向剪切干涉仪对自由曲面的实时3D轮廓测量
机译:使用大剪切量的横向剪切干涉仪测量自然对流中水平圆柱体的温度
机译:可变剪切的横向剪切干涉仪,用于测量小光束
机译:用于透明物体的亚微粒缺陷测量的最佳改性横向剪切干涉仪
机译:通过使用相位调制的大横向剪切干涉仪动态测量肥皂膜中的厚度分布
机译:一种偏振横向剪切干涉仪及其在工程表面的机上误差测量中的应用。
机译:基于改进的横向剪切干涉仪的数字全息显微镜用于三维视觉检查透明物体上的纳米级缺陷
机译:用于机器表面测量的横向剪切干涉仪的抗振特性
机译:横向剪切干涉仪在同步辐射光学元件测量中的应用