公开/公告号CN100585351C
专利类型发明授权
公开/公告日2010-01-27
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN200810039115.6
申请日2008-06-18
分类号G01J9/02(20060101);
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人张泽纯
地址 201800 上海市800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-23 09:03:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-08-12
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 9/02 授权公告日:20100127 终止日期:20140618 申请日:20080618
专利权的终止
2010-01-27
授权
授权
2009-01-28
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-12-03
公开
公开
机译: 横向剪切干涉法中记录光程差波的方法;实现该方法的三光束干涉仪的应用;改进的马赫曾德尔干涉仪,用于实现此方法
机译: 马赫-曾德尔型光调制器半波电压的测量方法。
机译: 马赫曾德尔型光调制器的半波电压的测量方法及装置