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马赫-曾德尔型剪切波面测量系统及其剪切波面测量方法

摘要

一种马赫-曾德尔型剪切波面测量系统及其剪切波面测量方法,该系统包括:由入射平板、出射平板、固定底座、第一反射平板、第二反射平板、第三反射平板、第四反射平板、第一导轨、第二导轨、成像透镜、小孔和CCD成像仪构成的干涉系统;提供精度保证的调整设备包括自准直平行光管、第一反射镜、激光准直光源、基准透反射镜、第二反射镜、光阑、第一五棱镜和第二五棱镜;控制处理系统包括压电控制器和计算机处理系统。本发明是一种适用于测量大口径,衍射极限下的波面,特别是适用于短相干长度的光源波面,可以进行移相处理,配有实时调整和标定的完整系统。

著录项

  • 公开/公告号CN100585351C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-01-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200810039115.6

  • 发明设计人 栾竹;刘立人;王利娟;

    申请日2008-06-18

  • 分类号G01J9/02(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 9/02 授权公告日:20100127 终止日期:20140618 申请日:20080618

    专利权的终止

  • 2010-01-27

    授权

    授权

  • 2009-01-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-12-03

    公开

    公开

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