用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备

摘要

本实用新型公开了用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，包括箱体，所述箱体的内部底部位置设置有液压杆A，所述液压杆A的上端固定连接有支撑台，所述箱体的内侧壁设置有竖侧板，所述竖侧板的侧壁开设有滑动轨，所述支撑台的两端滑动连接在滑动轨的内部，所述支撑台的上方设置有放置板，所述放置板的内部设置有半导体主体，所述放置板的内部开设有空腔，所述空腔的内部固定连接有液压杆B，所述液压杆B的一端固定连接有限位挡块，所述液压杆B的侧壁转动连接有下支杆。本实用新型半导体结构便于拿取和放置，工作效率高，避免损坏，结构更加稳定，避免整个装置震动，保证半导体测试的准确性。