一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置，包括：治具架和设置在治具架上的展讯SOC测试控制模块、显示模块、电流检测模块、开关控制模块和测试架；开关控制模块一端与外界电源连接，其另一端与展讯SOC测试控制模块连接，电流检测模块串联在展讯SOC测试控制模块和测试架之间，显示模块与SOC测试控制模块连接；SOC测试控制模块包括有展讯平台处理器，用于控制整个测试系统；开关控制模块用于给整个装置的断电和上电；电流检测模块用于显示线路的电流变化，测试架用于放置连接被测试的LPDDR4芯片。本实用新型技术方案旨在提出一种针对性强，实用简便，测试性能高的基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置。