一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置

摘要

一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质，需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况，现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。其组成包括：支撑外框（1），所述的支撑外框（1）外形尺寸是与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应，所述的支撑外框（1）与左试样夹具（3）、右试样夹具（4）固定，所述的左试样夹具(3)和右试样夹具（4）与被测薄膜试样(5)固定，所述的被测薄膜试样(5)因穿过加热筒(6）内部而被加热到所需要的温度，所述的加热筒（6）与温度传感器装置（2）连接，所述的被测材料加热部分（5）与所述的加热筒装置（2）内滑动。本实用新型用于材料科学。