法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-18
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N15/08 专利号:ZL2019221907695 申请日:20191210 授权公告日:20200904
专利权的终止
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 光学光谱仪和一种用于在高速度下使用相同结构来测量结构物理量的系统,能够测量结构中多个点的物理量的变化
机译: 一种旨在在压力或空气或气体吸入下运行的仪器或设备(高温计,气体分析设备等)中测量确定量的空气或气体并补偿气压对测量的影响的装置量的空气或气体