一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统

摘要

本实用新型公开了一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统，将线性变化的锯齿波函数信号，与被测量微弱信号叠加成一个新的成形信号，然后将此成形信号送到模数转换器U1中，在模数转换器U1采样所述成形信号时，采用过采样处理，然后，将经过过采样处理后的信号数据送到主控制器MCU进行处理，将信号解调成原始的被测量微弱信号。本实用新型采用普通的模数转换器或微处理器自带模数转换器对微弱信号进行直接采样或在采样前端进行简单的放大滤波处理后再进行信号采样，而不需要在采样前端放置复杂的模拟放大滤波信号处理电路，就能实现对微弱信号的高精度测量，成本低。