利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率

摘要

为了提高现有模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)检测微弱信号的能力,简化系统电路和降低生产成本,在充分利用ADC采样速度的条件下,通过过采样技术来提高ADC的分辨率,并且采用叠加成形函数的方法,实现了对微弱信号的检测.理论分析了不同情况下成形函数带来的误差、成形函数的使用条件和减少其带来的误差的方法.实验结果表明,用常规中分辨率ADC直接采样,就可以达到与现有高分辨率ADC直接采样才有的高精度;而使用叠加成形函数后的过采样技术,其效果更佳.