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一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置

摘要

本实用新型涉及全光信号处理技术领域,尤其是一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置,包括光源部分和光纤斐索干涉仪两部分,光源部分包括第一激光器和第二激光器;第一激光器发出的信号光依次经过第一偏振控制器和第一波分复用器进入被测的半导体光放大器SOA;第二激光器发出的控制光经过调制器后依次经过第二偏振控制器和第一波分复用器同时进入被测的半导体光放大器SOA;从半导体光放大器SOA输出的光进入第二波分复用器;后进入光纤斐索干涉仪,根据干涉结果计算被测SOA的线宽增强因子。本实用新型结构简单,对外界不敏感,测量精度高,另外,在测量非线性相移和线宽增强因子时对信号光、控制光功率和偏置电流不做限制,适用范围较广。

著录项

  • 公开/公告号CN210571295U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京恒高光电研究院有限公司;

    申请/专利号CN201921111269.1

  • 发明设计人 吴重庆;

    申请日2019-07-16

  • 分类号

  • 代理机构北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴东勤

  • 地址 210000 江苏省南京市栖霞区尧化街道尧佳路7号上城风景北苑16幢1007室

  • 入库时间 2022-08-22 14:04:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

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