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元器件引脚共面度的检测装置

摘要

本实用新型公开了一种元器件引脚共面度的检测装置,用于对元器件的引脚的共面度进行检测,包括:工作台、扫描装置、驱动装置和控制装置,其中扫描装置用于对元器件表面的引脚的高度进行测量,驱动装置将元器件移入至所述扫描装置中进行检测,元器件检测合格后被所述驱动装置从所述扫描装置中移出,控制装置控制所述驱动装置驱动元器件移动同时控制所述扫描装置对元器件进行测量以判断元器件是否合格。本实用新型中的元器件引脚共面度的检测装置能对元器件进行精准检测,并有效降低元器件的报废率,提高元器件的贴装的稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN210513030U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华显光学仪器有限公司;

    申请/专利号CN201921582062.2

  • 发明设计人 陈强;

    申请日2019-09-20

  • 分类号

  • 代理机构深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人钟斌

  • 地址 518109 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区华清大道200号花半里13栋C15层1505

  • 入库时间 2022-08-22 13:53:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-12

    授权

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